Официальный сайт УЦКП «Современные нанотехнологии»«Современные нанотехнологии».
12 декабря 2007 года в Екатеринбурге был создан Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии» Уральского государственного университета им. А.М. Горького (УЦКП СН УрГУ). В 2011 году в результате объединения УрГУ и УГТУ-УПИ был создан Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина.
В 2014 году УЦКП СН УрФУ был аккредитован в качестве испытательной лаборатории (центра) Федеральной службой по аккредитации.
Основными задачами центра, объединяющего физиков, химиков и биологов, являются и решение широкого круга исследовательских задач для преподавателей и ученых УрФУ, вузов города и региона, институтов Уральского отделения РАН, а также, на договорной основе, предприятий Свердловской области, имеющих наукоемкое производство подготовка специалистов в области нанотехнологий. Особое место занимает обеспечение образовательного процесса по направлению бакалавриата и магистратуры «Нанотехнология».
В настоящее время УЦКП СН УрФУ является одним из наиболее хорошо оснащенных российских ЦКП в области нанотехнологий. В нем сосредоточены новейшие образцы аналитического и технологического оборудования, предназначенного для исследований и производства наноматериалов.
Оборудование УЦКП СН УрФУ позволяет проводить комплексные исследования разнообразных нанообъектов в вакууме и жидкости, в широком
диапазоне температур, в том числе при 0,1К без применения жидких хладоагентов. Уникален набор сканирующих зондовых микроскопов: NTEGRA-Aura - с возможностью измерений в вакууме, NTEGRA-Therma - с возможностью измерений при повышенных температурах, NTEGRA-Spectra - с возможностями сканирующей оптической, ближнепольной и лазерной конфокальной микроскопии, и спектроскопии комбинационного рассеяния, Solver HV-MFM – для измерений в высоком вакууме и контролируемой атмосфере. Имеется сканирующий электронный микроскоп Auriga CrossBeam, Carl Zeiss со сфокусированным ионным пучком и системами рентгеновского микроанализа, дифракции обратно рассеянных электронов, компенсации заряда и электронно-лучевой литографии. Оптический и механический профилометры обеспечивают измерение рельефа поверхности с субнанометровым разрешением. Анализаторы производства компаний Shimadzu, Brookhaven и Malvern позволяют измерять размеры нано- и субмикронных частиц. Имеется СКВИД-магнитометр MPMS XL7, Quantum Design с рекордной чувствительностью. В «чистой комнате» размещен комплект современного оборудования для фотолитографии. Имеется установка плазменного травления. Механическая обработка поверхности кристаллов обеспечивает шероховатость менее нанометра. Для изготовления наноструктурированных кристаллов и синтеза наночастиц используются технологические лазеры.
Директор - Шур Владимир Яковлевич, д.ф.-м.н., профессор.
г. Екатеринбург, ул. Куйбышева, д. 48
Тел: +7 343 389-95-68
Email: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.
